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| 品牌 | J-RAS | 應用領(lǐng)域 | 化工,建材/家具,電子/電池,汽車及零部件,電氣 |
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J-RAS離子遷移試驗裝置
絕緣抵抗測定器
型號：ECM-100
離子遷移實驗裝置是一種信賴性試驗設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（BIAS VOLTAGE）,經(jīng)過長時間的測試（1～1000 小時）并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生（ION MIGRATION）,并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF 試驗，絕緣阻力電阻試驗，或者是 OPEN/SHORT 試驗，我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗。（ION MIGRATION TESTING） 適用規(guī)格：JPCA-ET01-2001
J-RAS離子遷移試驗裝置
特點：
①簡單便利
由于采用了高側(cè)計測，削減了對樣品的焊接工時。
通過簡單操作的軟件，可以進行直觀的操作。
在記錄和報告過程中配備了方便的報告功能。
試驗中測試儀可以單獨工作，可以切斷電腦的電源。
②高機能
通過對每個頻道單獨配備的外加測量電路，實現(xiàn)16ms的測量間隔。
泄漏接觸現(xiàn)象的檢測能力高，可靠性試驗的“質(zhì)量"提高。
一臺電腦可增設(shè)多達400個通道
每個通道有不同的測試電壓。
③高信賴性
通過自我診斷功能防止異常測量。
易于拆卸的單元結(jié)構(gòu)，易于維護。
用途
印刷電路板、焊錫、樹脂、導電性粘合劑、絕緣材料等的電化學遷移(離子遷移)評價。